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X射線無(wú)損探傷時(shí)間：2023-09-14型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：21264X射線無(wú)損探傷是一種利用X射線穿透物體并通過(guò)檢測(cè)和分析所產(chǎn)生的X射線圖像來(lái)評(píng)估物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷的技術(shù)。它可以用于檢測(cè)材料中的裂紋、氣孔、夾雜物等缺陷，以及評(píng)估物體的完整性和質(zhì)量。
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